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EC-770S涂层测厚仪

描述:EC-770S涂层测厚仪,膜厚仪,厚度仪,厚度计。EC涂层测厚仪本仪器能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过液晶快速显示结果。

更新时间:2024-09-18
产品型号:
厂商性质:生产厂家
详情介绍

EC-770S涂层测厚仪本仪器能同时测量磁性基材表面(如钢、铁等)的非磁性涂镀层(如油漆、陶瓷、铬等),以及非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密双探头,利用电磁感应和涡流效应,全自动探测基材属性,计算涂镀层厚度,并通过液晶快速显示结果。

 

【主要功能】

两种测量模式,单次和连续;

可存储最多五组数据;

可灵活零校准和多点校准(最多四点)。各组有单独的零校准和多点校准,组与组之间不影响;

用户可随时查看当前工作组已测得的数据,并删除所选数据或整组数据;

实时显示或查看当前工作组统计值:平均值,最小值,最大值,标准方差;

三种探头模式: 自动、磁感应和涡流;

可为各组单独设置高低限报警值,超*屏幕指示报警,支持红色背光报警;

可开启或关闭自动关机功能;

USB接口可传输数据到计算机;

单位可在um、mm、mils之间切换;

低电和错误提示;

 

EC-770S涂层测厚仪【应用场景】

本仪器能无损、快速、精密地进行涂、镀层厚度的测量。它广泛应用在电镀层、表面工艺、质控等检测领域。

 

【技术指标与型号对比】

型号

EC-770

EC-770S

EC-770E(外置探头)

EC-770X(内外置探头可选)

EC-500X(内外置探头可选)

探头通道

铁磁性F探头

非铁磁性N探头

铁磁性F探头

非铁磁性N探头

铁磁性F探头

非铁磁性N探头

铁磁性F探头

非铁磁性N探头

铁磁性F探头

非铁磁性N探头

原理

磁感应

涡流效应

磁感应

涡流效应

磁感应

涡流效应

磁感应

涡流效应

磁感应

涡流效应

测量范围

0~2000um

0~2000um

0~2000um

0~2000um

0~2000um

0~2000um

可选内置探头:

F5K N3K

F3K N3K

F2.5K N2.5K

F5K

F3K

F2.5K

N3K

N2.5K

 

可选外置探头:

F5K N3K

F3K N3K

F2.5K N2.5K

F5K

F3K

F2.5K

N3K

N2.5K

可选内置探头:

F0.5K N0.5K

F0.5K

F0.5K

 

可选外置探头:

F0.5K N0.5K

F0.5K

F0.5K

测量精度

±(2.5%+1um)

±(2.5%+1um)

±(2%+1um)

±(2%+1um)

±(2.5%+1um)

±(2.5%+1um)

±(2%+1um)

±(1%+1um)

分辨率

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

0.1um(<100um)  1um(其他)

可存储数据个数

320

2000

320

2000

2000

数据接口:USB
电源:2节1.5伏AAA电池
操作温度:-10 to 50℃
存储温度:-10 to 60℃
认证与标准:CE,ROHS,ISO 2178,2360,GB/T 4956-2003,4957-2003
尺寸与重量:113mmX53mmX24mm  80g

 

 

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